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三维光学显微镜

  • 更新时间:  2020-06-23
  • 产品型号:  ContourGT-K
  • 简单描述
  • ContourGT-K 具有完善的表面测量和分析功能,拥有工业超前的测量性能和灵活性。采用独有光干涉技术,超大视野内埃级至毫米级的垂直计量量程,具有业界超前的垂直分辨率和测量重复性。其直观的用户界面方便用户快速高效的获得材料表面粗糙度、二维 / 三维表面轮廓以及多种高精度数据,广泛应用于 IC 半导体、LED、太阳能电池、薄膜材料、MEMS、精密机械零部件、摩擦磨损等各个领域。
详细介绍

ContourGT-K三维光学显微镜完善了表面测量和分析的新标准,这套测量系统拥有工业超前的测量性能和灵活性,采用独有白光干涉技术,超大视野内埃级至毫米级的垂直计量范围,具有业界超高的垂直分辨率和测量重复性。

凭借其独特的直观用户界面和功能完善的自动化检测、分析功能,方便用户快速高效的获得材料粗糙度、二维/三维表面分析以及高分辨成像,广泛应用于LED、太阳能电池、薄膜材料、MEMS、精密机械零部件、摩擦磨损等各个领域,满足各种表面测量的实际需求。

ContourGT-K测试系统上,用户可自定义分析选项,多核处理器和Vision64®软件将数据处理、分析速度提高十倍,大大提高测试效率。
同时完善了软件和硬件功能,人性化的工作流程、超前的光学测试系统、高性价比的检测平台,使其成为桌上型三维光学显微镜的完美选择。除了标准配置的各种检测功能,客户还可以自定义测试方案,选择各类各级配件或特殊测试模块:
 全自动X、Y、Z样品台
 NanolensTM AFM模块
 特殊应用测试软件

 


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